美國達高特ZX-5超聲波測厚儀都有哪些探頭可選

探頭選擇：

注：用高溫探頭測量高溫表面時必需用配套的高溫耦合劑。

X-3/5/5/DL 采用超聲反射技術可以用單面測量法快速、準確地測量物體的壁厚，比傳統(tǒng)的游標卡尺等壁厚測量方式更快捷方便，適用范圍也更廣。

產(chǎn)品特點：

• 測量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度

• 120MHz FPGA采樣率，150V方波脈沖發(fā)生器

• 增益可調節(jié)（40-52dB）

• 增益步進間距3dB（vlow, low, med, high, vhi 五檔）

• 手動或自動調零

• 低溫型（-30℃）LCD顯示屏

• USB-C型通訊接口：輸出數(shù)據(jù)到計算機（僅ZX-5/5DL)

• USB轉串口功能，可選RS232或藍牙模塊（僅ZX-5）

• IP65防護等級

• 掃查測量：自動找出被測材料掃查區(qū)域內的最薄值

ZX-5超聲波測厚儀（標準探頭1.0-152mm） 技術參數(shù)：