TE-20-800安德森八級(jí)顆粒物撞擊采樣器  產(chǎn)品介紹

8級(jí)撞擊采樣器是一個(gè)多級(jí)，多孔的階式撞擊采樣器，用于大氣中的顆粒物分級(jí)采集，分析質(zhì)量濃度和粒徑分布。撞擊采樣器根據(jù)空氣動(dòng)力學(xué)原理設(shè)計(jì)，由8個(gè)撞擊盤(pán)組成，每個(gè)撞擊盤(pán)具有數(shù)量和直徑經(jīng)過(guò)嚴(yán)格設(shè)計(jì)的加速噴射小孔。樣氣流經(jīng)過(guò)每一級(jí)撞擊盤(pán)時(shí)，其中較大的顆粒由于慣性作用，直接撞擊并停留在撞擊盤(pán)的表面，而較小的顆粒則隨空氣流穿過(guò)，到達(dá)下一級(jí)撞擊盤(pán)。不同空氣動(dòng)力學(xué)粒徑的氣溶膠粒子根據(jù)空氣動(dòng)力學(xué)原理被分離并采集到各級(jí)采樣膜上，膜片用于重量和顆粒物成分分析。8級(jí)撞擊采樣器將微粒撞擊采集到不銹鋼表面或其它多種過(guò)濾膜上，在1CFM(28.3LPM)的流速下，粒徑分級(jí)范圍是10.0微米到0.4微米(空氣動(dòng)力學(xué)直徑)，后一級(jí)撞擊盤(pán)收集所有直徑小于0.4μm的顆粒。采樣介質(zhì)可以是玻璃纖維、石英、Teflon?6?4、鋁箔、不銹鋼等，常用的濾膜是石英和玻璃纖維濾膜。

TE-20-800安德森八級(jí)顆粒物撞擊采樣器 產(chǎn)品特點(diǎn)：

成熟、完善的設(shè)計(jì)和工藝

  經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)，帶BGI軟件程序表

  的限流檢測(cè) 

 TE-20-800安德森八級(jí)顆粒物撞擊采樣器  技術(shù)參數(shù)：

切割粒徑：（流速：28.3lpm）

級(jí)數(shù)	切割直徑（m）
切割前	10
0級(jí)	9
1級(jí)	5.8
2級(jí)	4.7
3級(jí)	3.3
4級(jí)	2.1
5級(jí)	1.1
6級(jí)	0.7
7級(jí)	0.4

上述切割點(diǎn)可與BGI公司的軟件程序表連用，可對(duì)8級(jí)撞擊采樣器的數(shù)據(jù)直接進(jìn)行分析。

 

Tisch 安德森八級(jí)顆粒物撞擊采樣器標(biāo)配輔件

  8個(gè)不銹鋼采集盤(pán)，81mm濾膜架（O圈），220VAC真空泵，濾膜盒，管路，便攜箱

 

Tisch 安德森八級(jí)顆粒物撞擊采樣器尺寸及重量

  采樣器：21.6cm(H)×9.8cm(D)； 重量1.64公斤；

  真空泵：24.1cm×14cm×11.4cm；重量3.9公斤

 

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